Этот металлургический микроскоп с высоким увеличением 4K Ultra HD идеально подходит для анализа дефектов материалов и рабочих процессов аудита качества. металлографический микроскоп с разрешением 4K Ultra HD. Двойное наблюдение через бинокулярные окуляры и внешний монитор позволяет удобный обзор команды. Беспроводную передачу данных можно реализовать, подключив беспроводной адаптер к USB-порту. Равномерное коаксиальное освещение вместе с режимами светлого и темного поля обеспечивает четкую видимость зерна. покрытия, трещины и другие мелкие дефекты. Встроенные функции захвата изображений и анализа измерений упрощают работу рабочие процессы проверки. Антивибрационное шасси обеспечивает стабильное качество изображения; удобная для модернизации модульная компоновка порезы будущие инвестиции в оборудование.
Камера 4K, интегрированная с тринокулярной металлургической рамкой, поддерживает одновременный просмотр через окуляр и экран. Двойной выход порта HDMI + Gigabit-LAN для захвата микроизображений Ultra-HD в режиме реального времени.
Оптическое увеличение 50-500×, максимальное цифровое увеличение 2000×. Точный оптический путь с профессиональным Металлургические объективы обеспечивают четкое изображение текстур микрометаллов.
Встроенный блок грубой и точной фокусировки обеспечивает плавную и стабильную фокусировку, значительно снижая вибрацию изображения во время съемки. наблюдение.
Цельное основание из литого алюминия обеспечивает хорошую балансировку устройства, отсутствие раскачивания или смещения во время длительной проверки срезов. и материало-наблюдательная работа.
Классический бело-синий корпус в исследовательском стиле со стандартной тринокулярной металлургической компоновкой, чистый и минималистичный для лаборатории и мастерские по контролю качества.
Подходит для металлометаллографического анализа, контроля полупроводниковых пластин, анализа дефектов материалов, задачи университетского преподавания-исследования и проверки качества компонентов.
Захват фото и видео в разрешении 4K (3840 × 2160). Встроенные измерения на мониторе и измерения с помощью программного обеспечения ПК доступен; двойное хранилище через USB-накопитель и компьютер. Вторичная разработка поддерживается для удобства архивирование изображений, сравнение и углубленный анализ данных.
Бинокулярное наблюдение и синхронное электронное наблюдение:Синхронизированное отображение между окуляром и монитор. Обычные металлургические микроскопы поддерживают просмотр только через окуляр; необходимы дополнительные аксессуары для камеры для вывода на экран.
Изображение сверхвысокой четкости 4K:Разрешение 3840 × 2160 4K для воспроизведения мелкой микроструктуры. Обычные металлургические камеры в основном имеют разрешение 1080P с ограниченной четкостью.
Интерфейсы с двумя выходами:Порт HDMI + Gigabit-LAN. Традиционные металлургические устройства обычно только подключение к ПК без сетевого порта для интеграции устройства.
Режимы двойного измерения:Автономные встроенные измерения на мониторе плюс измерения с помощью программного обеспечения для ПК. Обычные металлургические микроскопы поддерживают измерения только на стороне ПК без встроенной функции измерения.
Режимы двойного хранения:Автономный USB-накопитель и хранилище программного обеспечения для ПК; сохранение данных доступно с компьютером или без него. Обычным моделям для сохранения изображений требуется компьютер.
Поддерживается вторичная разработка:Порт Gigabit-LAN обеспечивает системную интеграцию для развертывание автоматизированной производственной линии. Общие металлургические микроскопы не поддерживают вторичную разработку. интеграция.
Выделенный металлургический оптический путь:Оптимизирован для анализа металла, покрытий и зернистой структуры. Обычные цифровые микроскопы не имеют специального металлургического оптического пути и не могут наблюдать металлургические процессы. микроструктуры.
Оснащен собственной промышленной камерой 4K (3840 × 2160) и профессионально откалиброван по стандарту. Для металлургических испытаний система создает сверхчеткие, равномерно сфокусированные изображения. Он точно восстанавливает сложный микроструктуры, включая границы зерен, слоистые покрытия и микротрещины с постоянной резкостью от от центра к краю.
Оснащен несколькими ахроматическими металлургическими объективами для микроанализа с большим увеличением. Двойной взгляд Тринокулярный дизайн поддерживает синхронный просмотр окуляра и отображение на цифровом мониторе, идеально подходящее для промышленного использования. такие сценарии, как идентификация металлического материала, проверка толщины покрытия и оценка качества зерна.
Встроенный профессиональный алгоритм измерений обеспечивает наложение данных на экран и высокую точность. металлургические измерения. Он охватывает множество ключевых показателей, включая толщину покрытия, длину зерен, ширину трещин и расстояние между слоями. пока поддержка аннотаций в реальном времени, архивирования изображений и экспорта тестовых данных. Совместимость со штабелированием глубины резкости и функции сшивания изображений.
Двухлучевое освещение в проходящем и отраженном свете гарантирует качественное освещение различных типов образцов. высокоточная подвижная платформа обеспечивает гибкое и точное позиционирование в поле. Усиленный цельнометаллический корпус эффективно устраняет вибрацию, обеспечивая стабильную работу при длительном обнаружении партий материалов.
Полупроводниковые и электронные компоненты:Микросхемы, кремниевые пластины, фотолитографические срезы, печатные платы платы, гибкие платы FPC, паяные соединения, штифты. Цели проверки: наблюдение за внутренними цепями чипа, пластины. покрытия, дефекты холодной пайки, окисление, царапины на схеме и деформация выводов; анализировать микросрезовые структуры при максимальном увеличении 2000×.
Металлические материалы и металлографические образцы:Металлографические срезы, штампованная металлическая фурнитура. Цели контроля: металлографический анализ зеренной структуры, идентификация материалов термической обработки; обнаружить сколы на кромках, микротрещины, заусенцы и глубина истирания.
Светодиодные оптоэлектронные и пластиковые детали:Светодиодные чипы, оптико-пластмассовые детали, литье под давлением и высечка продукты. Объекты проверки: осмотр крошечных насечек, поверхностных пятен, неровных краев, микропосторонних частиц, клеевое расслоение и заделка микродефектов.
Высокоточные миниатюрные компоненты:Разъемы, клеммы, микропружины, миниатюрные штампованные детали. Цели проверки: наблюдать за крошечными зазорами и плоскостностью обжима; выполнять точное измерение длины на уровне пикселей, диаметр и шаг отверстия.
Архивирование лабораторного и промышленного контроля качества:Металлографический-срез-эксперимент-анализ, входной и выборочный контроль готовой продукции; фото- и видеоархивирование записей дефектных доказательств и экспорт формальных отчетов по контролю качества.
Диапазон оптического увеличения 50×-500×, максимальное цифровое увеличение до 2000×, собственное разрешение 3840×2160 4K разрешение. Он четко отображает металлографические текстуры, покрытия стружки и мелкие зерна, что идеально подходит для микроанализа металлометаллографические структуры, пластины, покрытия и порошковые материалы для лабораторий материалов и полупроводниковых материалов осмотр.
Тринокулярный оптический путь обеспечивает одновременный просмотр через бинокулярные окуляры и монитор. Несколько операторов могут проверить объединение микрообразцов, идеально подходящее для обучения в университетах и двойной проверки дефектов на заводах.
Оснащен портами HDMI + Gigabit-LAN. HDMI подключает монитор для просмотра на месте; Порт LAN поддерживает локальная сеть доступ для удаленного доступа к изображениям и синхронного мониторинга на нескольких станциях, реализующий централизованное управление оборудованием для крупномасштабные лаборатории.
Два решения для измерения: встроенное измерение на мониторе и измерение с помощью программного обеспечения ПК. Два способа хранения: USB флэш-накопитель и компьютерное архивирование. Данные измерений и изображения 4K можно экспортировать для отчетов по контролю качества. устройство поддерживает вторичную разработку для интеграции производственной линии.
Стандартный металлургический столик с несколькими объективами подходит для образцов металлов, пластин, срезов покрытий и микроэлектронные детали. Прецизионная коаксиальная грубая и тонкая ручная фокусировка со стабильным корпусом, широко используемая в обучении, входной контроль и исследование новых материалов.
Отгрузка в нейтральной упаковке возможна по запросу.
| Сущность | Описание |
| Продукт | GP-L200-324K 4K Металлографический микроскоп с большим увеличением и разрешением 4K Ultra HD |
| Категория | Промышленный тринокулярный металлографический контрольно-измерительный микроскоп 4K с высоким увеличением |
| Основные технологии | Тринокулярная оптическая система синхронного наблюдения, профессиональная металлургическая группа объективов, 4К CMOS-изображение сверхвысокой четкости, механизм двойного цифрового измерения (экранное и программное обеспечение для ПК), HDMI + Гигабитная локальная сеть, двойная передача сигналов, технология двойного хранения, поддержка открытой системы вторичное развитие |
| Ключевые характеристики | Визуальное увеличение: 50/100/200/500×; Электронное увеличение: 200/400/800/2000×; Двойной выход: HDMI + Гигабитная локальная сеть; Разрешение захвата 4K 3840×2160; Ручная фокусировка; Двойные режимы измерения: встроенный измерение на устройстве + измерение с помощью профессионального программного обеспечения для ПК *(0,001 мм, меньший допуск измерения может быть достигнуто при большем увеличении. Результаты подлежат калибровке, увеличению и выборке условия)*; Двойное хранилище: локальное хранилище USB-флеш-накопителей + компьютерное хранилище файлов; Монитор-терминал поддерживает предварительный просмотр изображения, измерение размеров, захват фотографий и сохранение файлов; Поддержка ПК-терминала измерение и архивирование изображений, совместимое с интеграцией вторичной разработки |
| Типичные применения | Металлографический анализ структуры металла, наблюдение за зерном сплава и текстурой материала, измерение толщины покрытия, обнаружение полупроводниковых пластин, проверка поперечного сечения печатной платы, анализ отказов прецизионного оборудования, исследование материалов в университетских лабораториях, новая энергия-качество-материала- тестирование |
| Производитель | Куньшань Гаопинь Precision Instrument Co., Ltd. |
| Местоположение производителя | Куньшань, Цзянсу, Китай (недалеко от Шанхая) |
| Бренд продукта | ГАОПИН |
| Модель продукта | ГП-Л200-324К |
| Разрешение | 3840 × 2160 (4К) |
| Эффективные пиксели | 8,3-мегапиксельная |
| Метод фокусировки | Ручная фокусировка (коаксиальная грубая и точная регулировка) |
| Оптический формат датчика | 1/1,7 дюйма |
| Размер пикселя | 1,85 мкм × 1,85 мкм |
| Выходные интерфейсы | HDMI + Гигабитная локальная сеть |
| Частота кадров | HDMI: 60 кадров в секунду при разрешении 3840 × 2160 Порт LAN: 20 кадров в секунду при 1920 × 1080 |
| Операция измерения | Встроенная система измерения на мониторе + измерение с помощью программного обеспечения для ПК |
| Точность измерения | 0,001 мм *(Меньшая погрешность измерения может быть достигнута при большем увеличении. Результаты зависят от калибровка, увеличение и условия пробы)* |
| Единицы измерения | мм/мкм/мил/дюйм (переключается в 4 направлениях) |
| Инструменты измерения | Длина, угол, радиус, окружность, многоугольник, полилиния, межцентровое расстояние, прямоугольник, аннотация, автоматическое обнаружение края, масштабная линейка |
| Способ хранения | USB-накопитель + хранилище программного обеспечения для ПК |
| Режим именования изображений | Автоматическое или ручное присвоение имен файлам изображений. |
| Язык дисплея | Упрощенный китайский/английский (переключаемый) |
| Процессор | Четырехъядерный процессор основного управления ARM Cortex-A17 @ макс. 1,4 ГГц |
| Прошивка ОС | Независимая система измерения, построенная на ядре Linux 3.1. |
| Наблюдательная головка | Наклонный тринокулярный тубус 30°, поворот на 360°, регулируемое межзрачковое расстояние |
| Метод наблюдения | Светлое поле/косое освещение/проходящее освещение/простая поляризация |
| Система освещения | Двухлучевая система освещения в отраженном и проходящем свете, широкое напряжение 100–240 В; регулируемый центр накаливания, плавная регулировка интенсивности света |
| Каркас стенда | Стойка проходящего и отраженного света двойного назначения; коаксиальный механизм грубо-тонкой фокусировки; грубая настройка инсульт 33 мм, точность точной настройки 0,002 мм, с фиксацией и ограничителем; галогенная ламповая подсветка; Рефлектор светлого поля с диафрагмой переменной диафрагмы, диафрагмой поля и преобразованием цветового фильтра; Оборудовано с синий фильтр для наблюдения в отраженном свете |
| Мобильная платформа | Двухслойная механоподвижная ступень; размер сцены: 140×132 мм; Ход X-Y: 76 × 50 мм; стеклянная сцена для переданное и отраженное наблюдение |
| Источник света | Галогенная лампа отраженного света 6В-30Вт; Галогенная лампа проходящего света 6В-30Вт |
| Простая поляризация | Вставка поляризатора 30° (отраженный свет) + вставка анализатора, вращающаяся на 360° для поляризованного наблюдения |
| Электронный интерфейс | Интерфейс 0,5X C-mount, регулируемый фокус [Опционально: 1X C-mount] |
| Окуляр | Высокоточечный плоскопольный окуляр с большим полем зрения PL10X/18 мм (один окуляр со шкалой) |
| Металлургический объектив | Плоскопольные ахроматические металлургические объективы с большим рабочим расстоянием: 5X/0,13 WD15,5 мм; 10X/0,25 WD8,7 мм; 20X/0,40 WD8,8 мм; 50X/0,60 WD5,1 мм |
| Оптическое увеличение | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 ×, четырехуровневая регулировка |
| Электронное увеличение | Прибл. 200×, 400×, 800×, 2000× четырехуровневая регулировка (с возможностью расширения до 400-4000×) |
Микроскопы ГАОПИН используются ведущими предприятиями, научно-исследовательскими институтами и университетами. Наше сотрудничество отношения включают в себя:
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Обнаружение размеров и микродефектов при прецизионной обработке. части
Научно-исследовательский институт физико-химического машиностроения атомной промышленности – Микроморфология-наблюдение и прецизионный компонентный анализ специальных материалов
DOOV – Проверка сборки мобильных устройств, проверка экрана и внешнего вида компонентов
Шанхайский институт оптики и точной механики, CAS – Передовые оптические исследования и характеристика оптических компонентов
Университет Цинхуа – преподавание, лабораторная визуализация и архивирование экспериментальных данных.
Пекинский технологический институт – научные исследования и анализ материалов военного назначения и Оптоэлектронные устройства
Объектив и окуляр:Аккуратно протрите линзы бумагой для линз и средством для чистки линз. Никогда не прикасайтесь к оптическому линзы голыми руками или используйте для чистки обычные бумажные полотенца.
Основная часть и сцена:Своевременно очищайте образцы от мусора и металлургического порошка. Протрите корпус с помощью сухая мягкая ткань; избегайте брызг жидкости. Регулярно проверяйте затяжку винтов столика, чтобы предотвратить смещение, вызванное столкновения.
Источник проходящего и отраженного света:Выключите источник света, когда микроскоп простаивает. Удар протрите световое окно и не прикасайтесь к лампочке напрямую.
Механический механизм фокусировки:Не поворачивайте маховик фокусировки с чрезмерной силой. Продолжайте скользить дорожки чистые; никогда не смазывайте их самостоятельно.
Среда хранения:Храните в сухом, хорошо проветриваемом помещении, чтобы защитить его от влаги и плесени. Накройте после использования накройте устройство пылезащитной крышкой.
А1: Он обеспечивает визуальное увеличение 50–500 × и электронное увеличение 200–2000 ×. Окуляр и монитор синхронное наблюдение доступно для планового и прецизионного контроля.
А2: Он поддерживает видеовыход HDMI и соединение через порт Gigabit-LAN. Может работать независимо от монитора или подключаться к ПК через локальную сеть для передачи изображений и программного управления.
А3: Он поддерживает съемку 4K, запись видео и высокоточные измерения. Соответствующее программное обеспечение реализует глубина резкости укладка и сшивка изображений. Он поддерживает USB-флеш-накопитель и хранилище на ПК, экспорт отчетов и вторичную разработку.
А4: Размытые изображения возникают из-за неровных образцов, большого увеличения, пыльных линз или неправильной фокусировки. Сгладить образцы, уменьшить увеличения, очистите линзу и отрегулируйте фокус для получения четкого изображения.
А5: Нет изображения HDMI: проверьте источник питания, подключение кабеля и источник сигнала монитора, затем перезапустите устройство. LAN-подключение- Ошибка: оставьте компьютер и устройство в одном сегменте сети, отключите брандмауэр и проверьте настройки IP.
А6: Идеально подходит для металлографического анализа, чипов, прецизионной электроники, порошковой металлургии и тестирования волокон. Подходит для контроль промышленного качества, научные исследования и обучение.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., основанная в 2011 году, основатель которой с тех пор накопил отраслевой опыт. 2005, является технологическим предприятием, специализирующимся на проектировании, исследованиях и разработках, продажах и послепродажном обслуживании промышленного оборудования. микроскопы. Наша основная команда инженеров обладает более чем десятилетним специализированным опытом, обеспечивая зрелые технологии. и надежное качество. Имея более ста моделей оптической продукции и глобальную клиентскую базу, GAOPIN постоянно предлагает индивидуальные и экономически эффективные решения для микроскопии. Мы предоставляем быструю глобальную техническую поддержку через онлайн-конференции, видеоруководства и дистанционные тренинги. Наша производственная база находится в г. Куньшань, Провинция Цзянсу (близ Шанхая). Для компаний доступны как инспекции на месте, так и виртуальные туры по заводу. клиенты. Не стесняйтесь связаться с нами для получения образцов тестовых изображений, снятых с помощью этого GP-L200-324K 4K с высоким увеличением. металлографический микроскоп с разрешением 4K Ultra HD для оценки качества изображения непосредственно.
Адрес
Здание 2, Международный бизнес-центр Шуанлянь, город Хуацяо, город Куньшань, Китай
Тел.
Электронная почта
