Металлургический микроскоп GP-L600-300C для проверки пластин - это металлургический микроскоп для проверки пластин, специально разработанный для изучения микроструктуры материалов. осмотр. Оснащен оптической системой отраженного света высокого разрешения и функцией дифференциальной интерференции DIC. генерирует стереорельефные изображения для наблюдения зеренной структуры, трещин, включений и слоев покрытия металлов, сплавов, полупроводники и другие материалы. Благодаря встроенной промышленной камере он поддерживает захват изображений и их отображение на мониторе. измерение; Оценка размера зерна доступна с помощью дополнительного вспомогательного программного обеспечения. Широко применяется в контроль качества, сценарии анализа отказов и материаловедения.
Этот металлургический микроскоп для контроля пластин подходит для микроскопического наблюдения металлографических микроструктур и морфологии поверхности. Это служит идеальным исследовательским инструментом для металлургии, минералогии и точного машиностроения.
1. Бинокулярное наблюдение плюс синхронное электронное наблюдение:Вид в окуляр и монитор работать синхронно. Обычные металлургические микроскопы поддерживают только наблюдение в окуляры; дополнительные аксессуары для камеры необходимы для вывода на экран.
2. Высокоточный механический корпус:Жесткая механическая конструкция со стабильным оптическим путем, подходящая для работы в области полупроводников и анализа материалов. Обычные металлургические микроскопы обеспечивают меньшие механические точность.
3. Прямой выход HDMI:Вывод изображения в реальном времени на монитор через кабель HDMI. Общая металлургия микроскопам требуются отдельные камеры и карты захвата для вывода изображений.
4. Автономное измерение на мониторе:Измерение размеров может быть выполнено непосредственно на мониторе. без подключения к ПК. Обычные металлургические микроскопы полагаются исключительно на измерения с помощью программного обеспечения для ПК.
5. Автономное хранилище U-диска:Сохраняйте фото и видео на U-диск без компьютера. Традиционный модели должны подключаться к ПК для сохранения изображений.
6. Специальный металлургический оптический путь:Оптимизирован для металлического зерна, покрытий, полупроводников и металлографический контроль. Обычные цифровые микроскопы лишены этого специализированного оптического пути и не могут визуализировать металлографические структуры.
HD-камера встроена в корпус тринокуляра для одновременного просмотра через окуляр и монитор. Микроизображение HDMI в реальном времени выходные данные сочетают в себе рабочие процессы наблюдения и записи.
Поддерживает DIC, наблюдение в светлом, темном поле и в поляризованном свете. Увеличение 4-х ступенчатое, оптическое 50-500 крат, макс. цифровой Увеличение до 1900X, обеспечивающее четкие детали для проверки микрообъектов.
Двойные ручки фокусировки в сочетании с усиленным узлом объектива обеспечивают стабильную фокусировку и минимизируют дрожание изображения.
Толстый интегрированный металлический корпус и сценический кронштейн с низким центром тяжести, обеспечивающий стабильную работу длительный лабораторное наблюдение.
Минималистичная полностью белая жестко-металлическая конструкция с модульной оптической схемой, хорошо подходящая для лабораторий и исследований. институты.
Идеально подходит для контроля пластин, металлографического анализа, определения характеристик микроструктуры материалов, академических исследований и точно-качественно-оценочная работа.
Захват фото и видео 1080P, встроенное измерение на мониторе, хранилище U-диск. Цифровые изображения упрощают архивирование файлов, сравнение и постэкспериментальный анализ.
Механика:Цельнометаллическая конструкция обеспечивает высокую жесткость и виброустойчивость. Точность грубо-точная фокусировка без люфтов. Высокоточный ручной механический столик XY с низким износом и минимальным разрешение. Тринокулярный оптический путь сохраняет оптическое совмещение во время переключения увеличения.
Оптика:Планахроматические металлургические объективы со коррекцией на бесконечность и твердым противозапотевающим покрытием. Галогенная лампа проходящего-отраженного света мощностью 12В-100Вт.
Визуализация и измерение:Промышленная камера HDMI 1080P с превосходной защитой от помех производительность, подходящая для эксплуатации в промышленных условиях. Измерения выполняются через прошивку дисплея.
Операционная среда:Рабочая температура 10–35 ℃, относительная влажность 30–75 % относительной влажности. Стабильная производительность в обычной заводской электромагнитной среде. Избегайте сильной вибрации, агрессивных газов и сильной пыли.
Качество и обслуживание:Полная заводская проверка. Не разбирайте оптические модули. Обычный пылезащитная очистка продлит срок службы.
Полупроводники и микроэлектроника (основное приложение DIC):
Кремниевые пластины, литографические пластины, микросхемы, печатные платы, гибкие схемы FPC, паяные соединения, компоненты упаковки.
Объекты контроля: топография поверхности чипа, рисунки травления пластин, наноцарапины, соединения холодной пайки,
окисление и деформация штифта. Дифференциально-интерференционный контраст (DIC) подчеркивает тонкие различия в высоте поверхности.
для наблюдения срезов микросхем в диапазоне увеличений 190-1900×.
Металлографические образцы металлов:
Профили сплавные металлографические, сталь, метизы прецизионной штамповки.
Объекты проверки: структура зерна металла, анализ термообработки, микротрещины на поверхности, сколы по краям, мелкие заусенцы,
следы износа и внутренние примеси материала. Для металла доступны режимы светлого поля, темного поля и поляризованного света.
наблюдение кристаллической структуры.
Образцы лабораторных исследований: кристаллы, порошки, волокна и тонкие пленки:
Химические кристаллы, металлический порошок, углеродное волокно, текстильное волокно, пленки для оптических покрытий.
Наблюдайте за морфологией кристаллов, очертаниями частиц, расслоением пленки и текстурой микропокрытий; поляризованный свет
определяет кристаллополяризационные характеристики.
Оптоэлектронные прецизионные пластиковые компоненты:
Светодиодные чипы, оптические линзы, стеклянные подложки, клей для упаковки полупроводников.
Обнаружение микропор, наноцарапин, отслоений клея, пузырей и незначительных неровностей поверхности.
Высокоточные миниатюрные компоненты:
Разъемы, клеммы, микропружины, миниатюрные штампованные детали.
Точное измерение зазоров, диаметров отверстий, шага и разницы высот поверхностей на уровне пикселей; ДВС визуализирует
тонкая кримп-деформация.
Университетские лаборатории и контроль качества полупроводников высокого класса:
Материально-исследовательские эксперименты, входной контроль пластин, металлографическое наблюдение; фото-видео
архивирование.
Оснащен родным HD-изображением 1920*1080. Подходит для металлографического наблюдения, контроля основных полупроводников. и создание простых лабораторных отчетов; четко отображает металлические зерна и мелкие дефекты цепей.
Конструкция с ручной фокусировкой, подходящая для статических лабораторных образцов и низкочастотной замены деталей. Стабильная фокусировка структура с точной настройкой для детального наблюдения статических образцов.
Стандартный подвижный столик с ручным управлением и вертикальный тринокулярный металлургический оптический путь для образцов металла, срезов стружки и печатные платы среднего и малого размера, эффективно подавляющие отражающие блики для базового металлографического контроля.
Двойной диапазон увеличения: оптическое увеличение 50–500 раз, цифровое увеличение 190–1900 раз. Охватывает как полные образцы обзор и проверка микрозерен/микродефектов.
Встроенная функция измерения на устройстве, выход HDMI в реальном времени, U-диск для сохранения фотографий проверок и измерений. данные для базовых лабораторных целей архивирования.
Отгрузка в нейтральной упаковке возможна по запросу.
| Элемент | Описание |
| Продукт | GP-L600-300C Металлургический микроскоп для проверки пластин |
| Категория | Лабораторный исследовательский тринокулярный металлургический микроскоп, поддерживает дифференциально-интерференционный микроскоп DIC, наблюдение в светлом/темном поле/поляризованном свете |
| Основные технологии | Тринокулярная оптическая система синхронного обзора, многорежимная интегрированная подсветка (яркое поле, темнопольный, поляризационный, дифференциально-интерференционно-контрастный ДИК), профессиональный высокоточный металлургический комплект объективов, матрица HD CMOS, встроенный модуль прецизионного цифрового измерения, HDMI вывод видео в реальном времени, технология локального хранения изображений U-disk |
| Ключевые характеристики | Визуальное увеличение: 50/100/200/500×; Электронное увеличение: 190/380/760/1900×; Выходной интерфейс: HDMI только; Разрешение захвата: 1920*1080; Только ручная фокусировка; Встроенная функция точного измерения; U-диск хранение; Монитор-терминал поддерживает предварительный просмотр HD-изображения, фото- и видеозапись; Наблюдение режимы включают дифференциально-интерференционный, светлопольный, темнопольный и поляризованный свет. |
| Типичные применения | Анализ повреждений полупроводниковых пластин, металлографические испытания металлов и материалов, тонкопленочные покрытия. наблюдение микроструктуры, прецизионная проверка корпуса полупроводников, лабораторные исследования новых материалов, наблюдение за медицинскими биоматериалами, обнаружение микродефектов электронных компонентов |
| Производитель | Куньшань Гаопинь Precision Instrument Co., Ltd. |
| Местоположение производителя | Куньшань, Цзянсу, Китай (рядом с Шанхаем) |
| Модель | ГП-Л600-300С |
| Разрешение | 1920×1080 |
| Реальные эффективные пиксели | 2 мегапикселя |
| Метод фокусировки | Только ручная фокусировка |
| Оптический формат | 1/2" |
| Размер пикселя | 3,75 мкм × 3,75 мкм |
| Метод вывода | HDMI |
| Подробное введение в выходные интерфейсы | ① HDMI подключается к дисплеям, совместимым с разрешением 4K. Встроенная профессиональная прошивка для обработки изображений поддерживает фотозапись, видеозапись, измерение размеров, воспроизведение и сравнение изображений, управляемые мышью в режиме реального времени. |
| Частота кадров | HDMI: 60 кадров в секунду при 1920*1080 |
| Синтез глубины резкости | / |
| Сшивка изображений | / |
| Метод измерения | Встроенная система измерения на мониторе |
| Точность измерения | 0,001 мм |
| Единицы измерения | мм/мкм/мил/дюйм (4 переключаемые единицы) |
| Инструменты измерения | Длина, угол, радиан, круг, многоугольник, ломаная линия, межцентровое расстояние, прямоугольник, аннотация добавление, автоматическое определение границ, масштабная линейка и многое другое |
| Способ хранения | U-дисковое хранилище |
| Язык дисплея | Упрощенный китайский/английский (переключаемый) |
| Процессор | Двухъядерный процессор ARM Cortex-A7 @ макс. 1,3 ГГц |
| Операционная система | Независимая прошивка для измерений на базе ядра Linux 3.1. |
| Именование изображений | Доступно автоматическое или ручное присвоение имен. |
| Просмотр головы | Тринокулярная насадка шарнирного типа с наклоном 30°; диапазон межзрачковой регулировки: 54-76 мм; два светоделительных соотношения: 100:0, 0:100 |
| Режимы наблюдения | ★ Светлое поле/Темное поле/Поляризованный свет/ДИК (оборудование ДИК является дополнительным) |
| Система освещения | Система освещения проходящим-отраженным падающим светом, входное напряжение 100–240 В, широкий диапазон напряжения, регулируемый нить центр, плавная регулировка интенсивности света. |
| Стоять | ① Стойка двойного назначения с отражением и прохождением; Коаксиальный механизм грубой и точной фокусировки с нижним расположением руки.
Ход грубой регулировки: 33 мм; Точность точной настройки: 0,001 мм. Оснащен блокировкой и ограничением.
устройства ② Отражатель светлого и темного поля с регулируемой диафрагмой, диафрагмой и узел с регулируемым центром. ③ Интерференционный фильтр и пластина цветового баланса (белый свет) для оптический путь отраженного света. ④ Устройство переключения «светло-темное поле»; слоты для цветных фильтров и поляризационные аксессуары. |
| Механический этап | 4-дюймовый ручной механический столик. Размер сцены: 230×215 мм; Ход XY: 105 мм × 105 мм. Стекло пластина-носитель образца для наблюдения как в проходящем, так и в отраженном свете. |
| Источник света | Галогенная лампа 12В 100Вт (отраженный свет); Галогенная лампа 12В 100Вт (проходящий свет). |
| Функция поляризации | Гнездо поляризатора 30 градусов (отраженный свет); Поворотное на 360° гнездо для анализатора поляризованного света наблюдение. |
| Окуляры | Два широкоугольных плоскопольных окуляра PL10X/22 мм с регулировкой диоптрий (один окуляр с сеткой масштаб). |
| Револьвер | ★ Светло-темнопольная револьверная головка объектива с пятью отверстиями |
| Функция ДВС | Функция дифференциально-интерференционного контраста; Аксессуары для вставной платы DIC являются дополнительными и не входят в комплект поставки. в стандартная конфигурация. |
| Электронный интерфейс | Интерфейс камеры с креплением C-mount 0,5X, регулируемый фокус; CTV 1X является дополнительным с компенсацией разницы в цене. |
| Металлургические цели | ★ Полуразрушающие металлургические объективы со светлым и темным полем ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, рабочий Расстояние: 9,00 мм × 1 шт. ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, рабочее расстояние: 9,00 мм × 1 шт. ③ OLIPBD20NCA-ДИК 20X/0,45, Рабочее расстояние: 3,40 мм × 1 шт. ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, рабочее расстояние: 7,50 мм × 1 шт. ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Рабочее расстояние: 2,10 мм (опция, не входит в стандартную комплектацию) |
| Оптическое увеличение | 50X, 100X, 200X, 500X (четырехуровневое переключение) |
| Электронное увеличение | Прибл. 190X, 380X, 760X, 1900X (четырехуровневое переключение); дополнительный диапазон увеличения: 380-3800X. |
Отказ от ответственности:Логотипы и названия предприятий, университетов и научно-исследовательских институтов, появляющиеся на только этот сайт указывают, что такие организации приобрели или использовали микроскопы марки GAOPIN. Их внешний вид не должен быть истолкованный как покупка именно этой модели продукта и не подразумевает какой-либо коммерческой поддержки, совместного брендинга, аффилированности или совместное проектное партнерство с указанными сторонними организациями.
Микроскопы ГАОПИН используются ведущими предприятиями, научно-исследовательскими институтами и университетами. Наше сотрудничество отношения включают в себя:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – прецизионные разъемы и проверка компонентов
NIO Shanghai – Точная проверка автозапчастей и жгутов проводов для новых источников энергии
Шанхайский институт керамики, CAS – Микроанализ неорганической керамики и новых энергетических материалов.
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Внешний вид и микропроверка качества промышленные стандартные детали
Пекинский технологический институт – научные исследования и анализ военных материалов и оптоэлектронных устройств.
GREE Electric Appliances (Хэфэй) – точное измерение размеров и проверка дефектов деталей бытовой техники
Компания Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. была официально основана в 2011 году. Наш основатель начал исследования и производство оборудования для оптического контроля еще в 2005 году и накопило богатый опыт работы в отрасли. Мы доставить услуги полного цикла, охватывающие проектирование продукции, технические исследования и разработки, глобальные продажи и комплексное послепродажное обслуживание. Наша собственная команда инженеров имеет более чем десятилетний опыт разработки оптических систем для обеспечения стабильной работы. технические характеристики и надежное качество продукции.
GAOPIN предлагает более ста категорий приборов оптического контроля, обслуживающих промышленные и лабораторные предприятия. клиентов по всему миру. Мы предоставляем гибкие, экономически эффективные индивидуальные решения для микроскопии для различных промышленных предприятий. проекты по контролю качества и лабораторному анализу.
Для зарубежных покупателей мы обеспечиваем своевременную глобальную техническую поддержку, включая онлайн-видеоконсультации, оперативное видео- учебные пособия и дистанционное обучение навыкам. Наше производство расположено в Куньшане, провинция Цзянсу (недалеко от Шанхай). Приветствуются посещения фабрик и виртуальные онлайн-туры. Пожалуйста, свяжитесь с нашим отделом продаж для получения подлинных изображения-испытания образцов, полученные этим металлургическим микроскопом для проверки пластин для оценки реальное изображение-производительность.
А1: Имеется только выход высокой четкости HDMI. Нет порта USB, WIFI или LAN. Соединение с компьютером нет поддерживается; он работает независимо с монитором для упрощения рабочих процессов.
А2: Проверьте источник питания и соответствующий адаптер; надежно закрепите кабель HDMI; переключите монитор на правильный источник сигнала HDMI; перезапустите устройство, чтобы устранить проблемы с черным экраном и отсутствием изображения.
А3: Это модель с ручной фокусировкой. Медленно отрегулируйте маховик фокусировки, чтобы получить четкое изображение. Плотно зафиксируйте объектив, положите пробуйте образец на плоской поверхности и регулярно очищайте объектив от пыли и пятен, чтобы обеспечить четкое изображение.
А4: Поддерживаются только U-диски в формате FAT32 размером менее 32 ГБ. Форматы NTFS и exFAT несовместимы. Повторно вставьте, переформатируйте или замените совместимым U-диском для нормального сохранения фото и видео.
Адрес
Здание 2, Международный бизнес-центр Шуанлянь, город Хуацяо, город Куньшань, Китай
Тел.
Электронная почта
